SN74ABT18245ADL, специальные функциональные логические элементы scan test device
Изображения служат только для ознакомления. См. документацию товара
Специальные функциональные логические элементы Scan Test Device
Производитель:
Texas Instruments
Артикул:
SN74ABT18245ADL
Описание SN74ABT18245ADL
| Серия | SN74ABT18245A |
|---|---|
| Минимальная рабочая температура | 40 C |
| Максимальная рабочая температура | + 85 C |
| Вид монтажа | SMD/SMT |
| Упаковка / блок | SSOP-56 |
| Упаковка | Tube |
| Рабочее напряжение питания | 4.5 V to 5.5 V |
| Вес изделия | 694.800 mg |
| ECCN | EAR99 |
| Коммерческое обозначение | SCOPE |
| Время задержки распространения | 4.6 ns |
| Диапазон рабочих температур | 40 C to + 85 C |
| Функция | Scan Test Device with Bus Transceiver |
| Количество контуров | 2 |
Хотите получить образцы?
Заказать образец
Сообщите мне о поступлении товара